| 张强,刘振军,董欢庆,马留英,李猛坤.希捷瓦记录磁盘评测[J].高技术通讯(中文),2017,27(5): |
| 希捷瓦记录磁盘评测 |
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| 中文关键词: 瓦记录（SMR）, 瓦记录磁盘, 写覆盖, 原地更新 |
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| 中文摘要: |
| 分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录(SMR)技术的优势及局限性，指出SMR 采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度， 但是这也带来了写覆盖（Write Overlay）问题，即更新某一磁道上的数据时会覆盖相邻磁道上的有效数据，导致瓦记录磁盘（SWD）无法支持原地更新，使其非顺序写性能受到影响。为了促进该技术的应用，通过Fio和Filebench测试工具，对SMR技术的代表性产品——希捷瓦记录磁盘（SSWD）做了比较全面的测试，并对多种应用场景下SSWD 的性能做了详细的测试和分析，以便为SSWD在数据中心的应用提供重要的参考。 |
| 英文摘要: |
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